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技術研發
浙江省宏豐功能性復合材料
重點企業研究院
CNAS國家認可實驗室

CNAS國家認可實驗室由公司檢測中心發展而來,檢測中心1997年成立,2012年擴建,2014年獲得由中國合格評定國家認可委員會頒發的ISO/IEC 17025體系認可證書。


公司CNAS國家認可實驗室是國內同行中檢測設施完善的材料測試基地,為公司材料研發、產品質量控制、材料應用研究和產品失效分析提供一站式的檢測和試驗解決方案。目前已形成了計量校準、化學成分分析、組織結構分析、物理機械性能檢測和電氣性能試驗等一套完整的材料檢測試驗體系。同時,實驗室在各個專業領域都配置專業的技術和管理人員,以及業內領先的分析試驗儀器設備。


公司CNAS國家認可實驗室自建立以來,檢管理逐步完善,檢測能力不斷提升,形成了完整有效的質量管理體系,以規范的行為、過硬的技術、優質的服務贏得客戶贊譽。

掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡
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GeminiSEM 300掃描電子顯微鏡能同時進行Inlens二次電子成像和背散射電子成像,分辨率可達0.7nm,可實現快速,高質量,無畸變的大范圍成像和亞納米分辨成像。配備100mm2窗口EDS探測器,能夠快速完成點、線、面元素的定量測定;EBSD探測器,采集無畸變、百萬像素分辨率的花樣,用于精細的應變和相分析。

電感耦合等離子體發射光譜儀
電感耦合等離子體發射光譜儀
電感耦合等離子體發射光譜儀
電感耦合等離子體發射光譜儀
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電感耦合等離子體發射光譜儀具備垂直雙觀測結構(DSOI),提升了靈敏度,同時降低了樣品基體效應。優異的ORCA光路結構,可同時讀取130-770nm譜線信號,和通常的中階梯光柵+棱鏡交叉色散的光學系統相比,光強度信號提升可高達5倍,紫外/遠紫外區的靈敏度提高無與倫比。


直讀光譜儀
直讀光譜儀
直讀光譜儀

SPECTROLAB S 擁有世界上第一個基于CMOS的探測器的記錄系統,該系統非常適合于高端金屬分析。從微量元素到多基體應用,它提供了極其快速、高度準確、異常靈活的技術選擇。


原子吸收光譜儀
原子吸收光譜儀
原子吸收光譜儀

novAA 800F采用集成的8燈座,具有編碼燈識別功能,氘空心陰極燈背景校正,經驗證的單、雙光束模式和發射模式,以及最新的SiOSens半導體固態檢測器。 豐富智能的配件,最大程度地提高了檢測效率,極佳的安全性和分析程序的用戶友好性,適合高效常規分析。


萬能材料試驗機
萬能材料試驗機
萬能材料試驗機
萬能材料試驗機
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68TM-30型萬能材料試驗機搭載的30kN和1kN載荷傳感器在0.1~100%范圍內精度可達0.5級。整個試驗系統可以進行集成化數據閉環控制和采集、傳感器的自動識別和標定。配備的高精度非接觸式視頻引伸計AVE2分辨率為0.5微米,有正交極化照明系統和CDAT風扇專利可消除人員、照明、氣流對實驗結果的影響,得到可重復性高準確的應變測量結果。


3D輪廓儀
3D輪廓儀
3D輪廓儀
3D輪廓儀
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VR-5200 3D輪廓儀投射條紋狀結構光,通過高精細CMOS傳感器使光線成像,測量出各點的高度和位置。配備的低倍鏡頭使測量區域大至200×100×50 mm,高倍鏡頭使顯示分辨率小至0.1μm,可實現非接觸批量化測量產品形狀,起伏,粗糙度。


圖像尺寸測量儀
圖像尺寸測量儀
圖像尺寸測量儀
圖像尺寸測量儀
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IM-8020采用了雙遠心鏡頭,擁有出眾的邊緣檢測能力,可實現一鍵測量具有不同高度差的樣品尺寸,憑借2000 萬像素CMOS和邊緣檢測新算法,檢測性能是傳統機型的3 倍, 測量區域可達300mm × 200mm,測量速度是傳統機型的2 倍. 只需數秒即可測量完最多300 個部位。能快速、正確、簡單的測量,大幅度提高測量精度,縮短測量時間和人為誤差。


激光粒度儀
激光粒度儀
激光粒度儀
激光粒度儀
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HELOS/BR型激光粒度儀配置了RODOS干法分散系統,能有效的分散粉體,滿足特殊粒度檢測要求,實現了快速且高重復性的粒度分析。測量范圍:0.3~175μm,測量相對精度:<0.3%。


同步熱分析儀
同步熱分析儀
同步熱分析儀
同步熱分析儀
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STA 449 F3具有堅固、靈活、易于操作的特點,非常適合同時測試熱效應和質量的變化,綜合了高性能熱流型DSC和超高靈敏度天平,可以提供極致的稱重與測量范圍。


檢測標準
電觸頭材料密度的測定-L-WZHF-TC10-003-r2-1

范圍

本標準規定了電觸頭材料密度的測定方法。

本標準適用于各種電觸頭材料的密度的測量。

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電觸頭材料體積電阻率的測定-L-WZHF-TC10-002-r2-1

范圍

本標準規定了電觸頭材料體積電阻率的測定方法。

本標準適用于各種電觸頭材料的體積電阻率的測量。

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電觸頭材料中銀含量的測定-L-WZHF-TC10-001-r3-1

范圍

本標準規定了電觸頭材料中銀含量的測定方法。

硫氰酸鹽容量法適用非熔滲法制造的電觸頭材料銀含量的測定。測定范圍:

5.00%~99.00%。

碘量法適用于熔滲法制造的銀鎢、銀碳化鎢電觸頭材料中銀含量的測定。測定范圍:

25.00%~85.00%。

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低壓電器試驗站

公司低壓電器實驗站成立于2013年,通過模擬材料的實際應用場景研究其應用特性,為新項目進行前期摸底試驗,為新材料提供前瞻性的產品適用性研究。


通過多年不斷發展,已形成了較完整的低壓電器試驗能力,可做接觸器、斷路器、繼電器、保護器等的電壽命、溫升、短路等項目。

低壓電器試驗能力
保護器試驗能力
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